立讯精密采购三台英飞思X荧光光谱仪设备用于镀层分析和RoHS检测

8月下旬，立讯精密相关负责人，技术人员来我司考察仪器，送样品检测。我司技术人员详细介绍了仪

器的参数，应用，解释了客户针对性的各种问题。客户提供的几种样品检测分析后，我司仪器给出的各项

数据指标都准确合格。立讯精密在和其他厂家对比仪器各项性能指标价格后，于9月初选择英飞思的能量色

散X荧光光谱仪--镀层分析仪和RoHS检测仪，用于产品的镀层，镀液检测分析，RoHS检测分析，为产品质量牢牢把关。

英飞思镀层测厚仪/膜厚仪

微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。

>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

>高分辨率样品观测系统

精确的点位测量功能有助于提高测量精度。

>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。

英飞思RoHS检测仪

1-一键式自动测试，使用更简单，更方便，即使非技术人员也能快速上手

2-采用美国AmpTek最新型Si-pin/SDD探测器，电致冷技术，体积小、数据分析准确且维护成本低。

3-采用自主研发的探测器信号增强处理系统，提高信噪比，达到实验室级别低1ppm检出限。

4-八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换。最小0.2mm准直器可以用于样品微点测试，检测光斑更小，射线能量更集中。内置高清CCD摄像头，能清晰地显示仪器所检测的样品部位

5-采用7位滤光片自动切换系统，不同滤光片可有效提高不同基体中元素的检测下辖

6-多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品高级

7-先进的一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，提高核心部件使用寿命

8-的芯温控技术，保证X射线源的安全可靠运行，降低使用成本

9-可定制化报告，可以自由设定元素检测限，软件自动标示超标元素（Fail/Pass）

10-多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全

11-优化了Cl，Cr等元素的检测，大大提高了低含量Cl和Cr元素的测试灵敏度和稳定性，为用户的无卤分析提供了更精准的检测方法

12-可拓展应用：镀层厚度分析，八大重金属分析，合金成分分析