用XRF荧光光谱仪EDX9000B矿石分析仪测定氧化铝陶瓷成分

用XRF荧光光谱仪EDX9000B‍矿石分析仪测定氧化铝陶瓷成分

使用X射线荧光光谱法测定氧化铝陶瓷主次量成分.用熔融玻璃片法制样,此方法简单,迅速,成本低.选用铝土矿GBW07177～GBW07182和GSB04—2606—2010系列标准样品,采用仪器软件XTest中提供的EC经验系数和FP基本参数法校正元素间的谱线重叠干扰和基体效应,使用EDX9000B能量色散x射线荧光光谱仪对样品中的Al2O3,SiO2,Fe2O3,TiO2,K2O,Na2O,CaO和Mg0共8个元素进行测定,各组分的RSD均小于3.36%,测量结果与计算值的误差在化学分析允许差范围内.

测试谱图