苏州英飞思科学仪器有限公司
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苏州英飞思科学仪器有限公司
专注于X 射线荧光光谱仪及配套设备的研发、生产和应用。基于多年的技术积累和沉淀,英飞思拥有整套XRF光谱仪的原生态软件研发和硬件制造技术,我们不仅能提供整套光谱仪定制服务,而且能够提供全方位专业而系统的元素成分分析及镀层测厚的解决方案,以满足客户日益严苛而高标准的测试需求。
PRODUCT SAFETY IS GUARANTEED
— 荣获多项安全合格证书放心选用 —
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TWO ADVANTAGES
— 两大优势帮你迎面解决问题 —
拥有完整的XRF全产业核心技术
包含基础配件的研发,制造和维修(光管,高压,探测器),FP软件源代码,光路设计,整机研发和升级等
拥有全系列的XRF产品线
完整而丰富的标准样品库,极具竞争力的产品性价比
XRF光谱仪快速,准确,无损且易于操作,已成为现代测试技术中最有用而高效的工具。英飞思专业研发的高压装置可提供最佳的X射线输出稳定性和效率。同时,出色的电压输出可显着延长X射线管的使用寿命。具有可选靶材(Rh / W / Mo / Ag)的50瓦坚固耐用X射线光管适用于各种应用。配备先进的DMCA(数字多通道分析仪)的Si-pin / SDD检测器确保了市场上最好的测试性能。自主研发的XRF软件,具有FP(基本参数)和EC(经验系数)算法,可轻松完成不同场景下的曲线标定。
如果需要,我们的程序员还可以提供定制软件功能。英飞思在合金牌号测试PMI,贵金属鉴定,矿物勘探,RoHS符合性测试,镀层测厚,电镀液元素分析,石油化工和土壤重金属污染等诸多应用具有成功而丰富的经验。英飞思拥有适用于台式和便携式型号的完整XRF能量色散光谱仪产品线
我们提供全球的现场安装服务;分销商和客户工程师可以在工厂接受免费和完整的技术培训;我们可以通过互联网提供在线服务支持;我们所有的产品都可以进行免费软件升级。
卤素Cl氯测试可以精确到50ppm;镀层测厚可以测试多层,最多可以测试5层。镀层测厚最小孔径可以做到0.15毫米;准直器8个且能实现软件自动控制,滤光片配置多达7个,多种组合选择提高检测灵敏度。
COOPERATIVE PARTNER
— 长期战略合作伙伴 —
坤锦电子(太仓)有限公司
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副标题

03-28

2024

稀土分析仪EDX8800M Max用于快速分析独居石中稀土成分独居石是一种含有稀土元素的磷酸盐矿物,属于稀土矿物。独居石主要在花岗岩、正长岩、片麻岩和花岗伟晶岩中作为副矿物出现,有时也会在热液矿床中出现。独居石的颜色可能为棕红色、黄色或褐黄色,具有油脂光泽,莫氏硬度在5到5.5之间,密度大约在4.9到5.5克/立方厘米。独居石是提取稀土元素的重要矿物原料,尤其是铈族稀土元素,其成分中常含有钍...

03-06

2024

EDX8800M MAX用于快速分析重晶石(BaSO4) 1背景介绍重晶石(英语:Barite或Baryte),是一种由硫酸钡(BaSO4)组成的矿物。[3]颜色一般呈白色或透明,是钡元素的主要来源。重晶石族主要由重晶石、天青石、铅矾以及重晶石和天青石的固溶体组成。 高纯的重晶石有较低的杂质浓度,通常市场价格也更高,因此准确测量其成分含量变的至关重要。比如重晶石中的 Fe元素,当其含量较低时...

02-09

2024

EDX8800M MAX用于分析测定镍矿1背景介绍长期以来,镍金属生产的主要来源是岩浆硫化矿。但是随着全球镍金属需求增加其他资源变得更加需要。其中一个镍来源是红土,通常在露天矿中作为低品位矿床开采。为了优化镍生产工艺监测镍的化学成分比以往任何时候都重要。除了Ni、Fe等常量元素外,Si、Mg、Al、Ca、Ti、Cr、Mn、Co、Cu、和 Zn 通常以微量成分存在。所有这些元素都可以使用EDX...
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03-28

2024

稀土分析仪EDX8800M Max用于快速分析独居石中稀土成分独居石是一种含有稀土元素的磷酸盐矿物,属于稀土矿物。独居石主要在花岗岩、正长岩、片麻岩和花岗伟晶岩中作为副矿物出现,有时也会在热液矿床中出现。独居石的颜色可能为棕红色、黄色或褐黄色,具有油脂光泽,莫氏硬度在5到5.5之间,密度大约在4.9到5.5克/立方厘米。独居石是提取稀土元素的重要矿物原料,尤其是铈族稀土元素,其成分中常含有钍...

03-25

2024

贵金属测试仪EDX8000Max 用于测试黄金碎屑随着贵金属价格的每日变化,测试中的微小误差会严重影响商家的利润。镀金和假冒物品成为了珠宝商,黄金交易商和当铺所有者每天面临的一些挑战。EDX-8000 Max, 不仅配备了市面上最先进SDD检测器,而且超大样品腔也能满足各种大尺寸样品测试,而无需分解或者破坏样品。EDX-8000 Max的特点使其成为黄金及珠宝检测的最佳选择。 应用行业:贵金...

03-25

2024

膜厚仪8000T plus用于测试电子元器件引脚镀金层厚度近年来,电子元器件向小型化、多功能和高性能方向迅速发展,有时元器件封装引脚会镀层金来提高其性能,该镀层有很好的装饰性、耐蚀性和较低的接触电阻,镀层可焊性优良,极易溶于钎料中。其耐蚀性和可焊性取决于有否足够的镀层厚度及无孔隙性。薄镀层的多孔隙性,易发生铜的扩散,带来氧化问题而导致可焊性变差。而过厚的镀层又会造成因Au的脆性而带来不牢固的...
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